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弹片测试座和探针测试座哪种更好呢?下面一起来了解下吧。
一、什么是探针?探针有那些常用种类?
探针是电测试的接触媒介,为***精密型电子五金元器件。
IC芯片老化、测试、烧录主要用到种类,探针的主要参数。
1.高频探针(CoaxialProbes)
用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.
2.高电流探针(HighCurrentProbes)
探针直径在二点五四mm-.四点七五mm之间.大的测试电流可达39amps.
3.半导体探针(SemiconductorProbes)
直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ωacteristic
四.探针的主要参数:
引脚数量、间距(mm)、使用高低温度、IC频率
探针在测试座里的使用状况:有四个接触点,摩擦点多,高低温下容易变形,镀金范围广。核心技术掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。
二、什么是弹片?
弹片是电测试的接触媒介,为精密型电子五金元器件,比探针工艺简单,使用性能比探针好。
弹片在测试座里的使用状况:有二个接触点,没有摩擦点,高低温下不会变形,镀金范围小。核心技术掌握在鸿怡电子手中,弹性好,不会出现偏移,没有磨损,寿命长。
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